Blättern nach Person
Ebene hoch |
Deutsch
Schubert, Ulrich ; Wieder, Thomas
Hrsg.: Schubert, Ulrich ; Jutzi, Peter (2003)
Ein Strukturmodell des amorphen SiO.
In: Silicon Chemistry
Buchkapitel, Bibliographie
Hoelzel, Markus ; Danilkin, S. A. ; Hoser, A. ; Ehrenberg, Helmut ; Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut (2002)
Phonon dispersion in austenitic stainless steel Fe-18Cr-12Ni-2Mo.
In: Applied physics / A, 74
Artikel, Bibliographie
Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Schneider, D. ; Fuess, Hartmut ; Ben Ghozlen, M. H. (2002)
Surface wave propagation in thin silver films under residual stress.
In: Zeitschrift für Naturforschung / A, 57
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1999)
Rietveld-Analyse amorpher Strukturen.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Wieder, Thomas ; Fuess, H. (1997)
A generalized Debye scattering equation.
In: Zeitschrift für Naturforschung. 52 a (1997), S. 386-392
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1996)
Realstrukturaufklärung polykristalliner dünner Schichten mittels Röntgenbeugung.
Habilitation, Bibliographie
Zendehroud, Jafar ; Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus (1995)
Gitterkonstantenbestimmung in kubischen dünnen Schichten unter thermischer Dehnung.
In: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, 26 (7)
doi: 10.1002/mawe.19950260712
Artikel, Bibliographie
Zendehroud, Jafar ; Wieder, Thomas (1993)
Tiefenauflösende röntgenographische Dehnungsmessungen an TiN-Schichten in Seemann-Bohlin-Geometrie.
In: Härterei-Technische Mitteilungen, 48
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1991)
Berechnung des (420)-Reflexprofiles einer γ′-Fe4N(1−x)-Schicht mit Säulenstruktur und Dehnungsrelaxation.
In: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, 22 (1)
doi: 10.1002/mawe.19910220106
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas ; Herr, W. ; Gärtner, Helmut (1989)
Berechnung von Röntgenreflexen für polykristallines Titan unter dem Einfluß von Stickstoffgradienten und Eigenspannungen.
In: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, 20 (8)
doi: 10.1002/mawe.19890200805
Artikel, Bibliographie
Englisch
Wieder, Thomas (2014)
A toy model for hostility between two populations in dependency on their internal frustration.
In: International Mathematical Forum, 9 (32)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2013)
On the use of strategies attached to subpopulations in the description of competition among different populations.
In: International Mathematical Forum, 8 (37)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2012)
Addendum to "A simple differential equation system for the description of competition among religions”.
In: International Mathematical Forum, 7 (54)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2012)
The Debye scattering formula in n dimensions.
In: Journal of Mathematical and Computational Science, 2 (4)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2011)
Generation of all possible multiselections from a multiset.
In: Progress in Applied Mathematics, 2 (1)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2011)
A simple differential equation system for the description of competition among religions.
In: International Mathematical Forum, 6
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2009)
The number of certain rankings and hierarchies formed from labeled or unlabeled elements and sets.
In: Applied matheamtical sciences, 3 (55)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2008)
The number of certain k-combinations of an n-set.
In: Applied Mathematical E-Notes, 8
Artikel, Bibliographie
Wali, Y. ; Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Ben Ghozlen, M. H. (2007)
The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si.
In: NDT and E International, 40 (7)
doi: 10.1016/j.ndteint.2007.02.004
Artikel, Bibliographie
Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Ben Ghozlen, M. H. ; Fuess, Hartmut (2004)
An intensity correction for pole figure measurements by grazing incident and grazing exit angle X-ray diffraction.
In: Materials characterization, 52
Artikel, Bibliographie
Hohl, Achim ; Wieder, Thomas ; Aken, Peter A. van ; Weirich, Th. E. ; Denninger, G. ; Vidal, M. ; Oswald, S. ; Deneke, C. ; Mayer, J. ; Fuess, Hartmut (2003)
An interface clusters mixture model for the structure of amorphous silicon monoxide (SiO).
In: Journal of non-crystalline solids, 320 (1-3)
doi: 10.1016/S0022-3093(03)00031-0
Artikel, Bibliographie
Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut (2002)
Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films.
In: Surface and interface analysis, 33
Artikel, Bibliographie
Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. (2001)
Microstructure analysis of ohmic contacts on MBE grown n-GaSb and investigation of submicron contacts.
In: Journal of Crystal Growth, 227-228
doi: 10.1016/S0022-0248(01)00785-0
Artikel, Bibliographie
Schreiber, Jürgen ; Neubrand, Achim ; Wieder, Thomas ; Schamsutdinov, Nail (2001)
Distribution of Macro- and Micro-Stresses in W-CuFGM.
In: Functionally Graded Materials 2000, 114
Artikel, Bibliographie
Danilkin, S. A. ; Fuess, Hartmut ; Wieder, Thomas ; Hoser, A. (2001)
Phonon dispersion and elastic constants in Fe-Cr-Mn-Ni austenitic steel;.
In: Journal of Materials Science, 36 (4)
doi: 10.1023/A:1004801823614
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (2000)
On the strain-free lattice constants in residual stress evaluation by diffraction.
In: Journal of structural geology, 22 (11-12)
doi: 10.1016/S0191-8141(00)00111-5
Artikel, Bibliographie
Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. (2000)
Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. (2000)
Grazing evidence diffraction versus grazing incidence diffraction for strain/stress evaluation in thin films.
In: Powder diffraction, 15
Artikel, Bibliographie
Beskrovni, A. ; Danilkin, S. ; Fuess, H. ; Jadrowski, E. ; Neova-Baeva, M. ; Wieder, Thomas (1999)
Effect of Cr content on the crystal structure and lattice dynamics of FCCFe-Cr-Ni-N austenitic alloys.
In: Journal of alloys and compounds, 291
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1999)
Numerical Hankel transform by the Fortran program HANKEL.
In: Transactions on mathematical software, 25
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas ; Neubrand, A. ; Fuess, H. ; Pirling, T. (1999)
Yield stress increase in a W/Cu composite observed by neutron diffraction.
In: Journal of materials science letters, 18
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1999)
A generalized Debye scattering formula and the Hankel transform.
In: Zeitschrift für Naturforschung. Sect. A: Journal of physical sciences, 54
Artikel, Bibliographie
Danilkin, S. ; Fuess, H. ; Wieder, Thomas ; Wipf, H. (1998)
X-ray and neutron scattering study of Nb-O solid solutions.
In: Journal of alloys and compounds. 266 (1998), S. 230-233
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut (1998)
On the generalized Debye scattering equation.
In: EPDIC 5
Buchkapitel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1996)
Simultaneous determination of the strain/stress tensor and the un-strained lattice constants by X-ray diffraction.
In: Applied physics letters. 69 (1996)
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1996)
WVM: a computer program for the determination of lattice constants and strains in thin films.
In: Computer physics communications. 96 (1996), S. 53-60
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1995)
Calculation of thermally induced strains in thin films of any crystal class.
In: Journal of Applied Physics, 78 (2)
doi: 10.1063/1.360273
Artikel, Bibliographie
Zendehroud, Jafar ; Wieder, Thomas ; Klein, Helmut (1995)
Determination of Stress Tensors in thin textured copper films by grazing incidence diffraction.
In: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik, 26 (10)
doi: 10.1002/mawe.19950261012
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1995)
Lattice constant determination by grazing incidence diffraction in thin cubic films under thermal strain.
In: Thin Solid Films, 256 (1-2)
doi: 10.1016/0040-6090(94)06309-5
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1995)
SBGBBG, a program to evaluate the macroscopic strain/stress tensor of a polycrystalline sample from X-ray reflection positions.
In: Computer Physics Communications, 85 (3)
doi: 10.1016/0010-4655(94)00128-O
Artikel, Bibliographie
Kimmel, Giora ; Politi, L. ; Wieder, Thomas (1994)
Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF.
In: Advances of X-Ray Analysis, 37
Artikel, Bibliographie
Levin, Igor ; Kaplan, Wayne David ; Wieder, Thomas ; Brandon, David (1994)
Residual stresses in alumina-SiC nanocomposites.
In: Acta Metallurgica et Materialia, 42 (4)
doi: 10.1016/0956-7151(94)90131-7
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas (1993)
SBGBBG: A Computer Program For Strain/Stress Tensor Calculation From X-Ray Diffraction Data.
In: Powder Diffraction, 8
Artikel, Bibliographie
Gartner, Helmut ; Thoma, Klaus ; Volkmann, H. ; Wieder, Thomas ; Schmitt, A. (1991)
High-energy implantation of Kr+ into Ti.
In: International Journal of Radiation Applications and Instrumentation Part D Nuclear Tracks and Radiation Measurements, 19 (1-4)
doi: 10.1016/1359-0189(91)90334-E
Artikel, Bibliographie
Siejkowski, Waldemar ; Calderero-Lopez, A. ; Wieder, Thomas ; Gärtner, Helmut (1991)
X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films.
In: Metalurgia I Odlewnictwo, 17
Artikel, Bibliographie
Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut (1988)
New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles.
In: Applied Physics A Solids and Surfaces, 46 (3)
doi: 10.1007/BF00939259
Artikel, Bibliographie
Thoma, Klaus ; Färber, R. ; Wieder, Thomas ; Gärtner, Helmut (1987)
Structure and fatigue properties of ion-plated Nickel films on steel.
In: Materials Science and Engineering, 90
doi: 10.1016/0025-5416(87)90228-X
Artikel, Bibliographie