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Microstructure analysis of ohmic contacts on MBE grown n-GaSb and investigation of submicron contacts

Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. :
Microstructure analysis of ohmic contacts on MBE grown n-GaSb and investigation of submicron contacts.
In: Journal of crystal growth, 227-22 pp. 625-629.
[Artikel], (2001)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2001
Autor(en): Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H.
Titel: Microstructure analysis of ohmic contacts on MBE grown n-GaSb and investigation of submicron contacts
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Journal of crystal growth
Band: 227-22
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Strukturforschung
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:28
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