Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. (2001)
Microstructure analysis of ohmic contacts on MBE grown n-GaSb and investigation of submicron contacts.
In: Journal of Crystal Growth, 227-228
doi: 10.1016/S0022-0248(01)00785-0
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2001 |
| Autor(en): | Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Microstructure analysis of ohmic contacts on MBE grown n-GaSb and investigation of submicron contacts |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1 Juli 2001 |
| Verlag: | Elsevier |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Crystal Growth |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 227-228 |
| DOI: | 10.1016/S0022-0248(01)00785-0 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:28 |
| Letzte Änderung: | 09 Apr 2021 09:51 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum