Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. (2000)
Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2000 |
| Autor(en): | Sigmund, Jochen ; Saglam, M. ; Vogt, Alexander ; Hartnagel, H. L. ; Buschmann, V. ; Wieder, Thomas ; Fuess, H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Microstructure analysis of Ohmic contacts on MBE grown n-GaSb layers and investigation of submicron contacts |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2000 |
| Reihe: | MBE-XI: International Conference on Molecular Beam Epitaxy <11, 2000, Beijing, China>: Abstract Book.S. 275 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:25 |
| Letzte Änderung: | 14 Feb 2019 10:47 |
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