TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles

Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut :
New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1007/BF00939259]
In: Applied Physics A Solids and Surfaces, 46 (3) p. 165. ISSN 09478396
[Artikel], (1988)

Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF00939259
Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1988
Autor(en): Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut
Titel: New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied Physics A Solids and Surfaces
Band: 46
(Heft-)Nummer: 3
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Strukturforschung
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 14 Sep 2009 06:54
Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1007/BF00939259
ID-Nummer: 10.1007/BF00939259
Export:

Optionen (nur für Redakteure)

Eintrag anzeigen Eintrag anzeigen