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New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles

Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut (1988)
New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles.
In: Applied Physics A Solids and Surfaces, 46 (3)
doi: 10.1007/BF00939259
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1988
Autor(en): Wieder, Thomas ; Thoma, Klaus ; Gärtner, Helmut
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: New scattering formula for the analysis of X-ray line broadening by composition profiles
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1988
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Applied Physics A Solids and Surfaces
Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: 46
(Heft-)Nummer: 3
DOI: 10.1007/BF00939259
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 14 Sep 2009 06:54
Letzte Änderung: 05 Mär 2013 09:23
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