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Sternemann, C. ; Soininen, J. A. ; Volmer, M. ; Hohl, Achim ; Vankó, G. ; Streit, S. ; Tolan, M. (2005)
X-ray Raman scattering at the Si L II,III-edge of bulk amorphous SiO.
In: Journal of physics and chemistry of solids, 66
Artikel, Bibliographie

Hohl, Achim (2003)
Untersuchungen zur Struktur von amorphem Siliziummonoxid.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Erstveröffentlichung

Hohl, Achim ; Wieder, Thomas ; Aken, Peter A. van ; Weirich, Th. E. ; Denninger, G. ; Vidal, M. ; Oswald, S. ; Deneke, C. ; Mayer, J. ; Fuess, Hartmut (2003)
An interface clusters mixture model for the structure of amorphous silicon monoxide (SiO).
In: Journal of non-crystalline solids, 320 (1-3)
doi: 10.1016/S0022-3093(03)00031-0
Artikel, Bibliographie

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