Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut (2002)
Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films.
In: Surface and interface analysis, 33
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2002 |
| Autor(en): | Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2002 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Surface and interface analysis |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 33 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:29 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:26 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum