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Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films

Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut :
Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films.
In: Surface and interface analysis, 33 pp. 626-628.
[Artikel], (2002)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2002
Autor(en): Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Fuess, Hartmut
Titel: Reflectometry studies of the oxidation kinetics of thin copper films
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Surface and interface analysis
Band: 33
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Strukturforschung
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:29
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