Wali, Y. ; Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Ben Ghozlen, M. H. (2007)
The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si.
In: NDT and E International, 40 (7)
doi: 10.1016/j.ndteint.2007.02.004
Artikel, Bibliographie
Dies ist die neueste Version dieses Eintrags.
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2007 |
| Autor(en): | Wali, Y. ; Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Ben Ghozlen, M. H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 2007 |
| Verlag: | ELSEVIER |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | NDT and E International |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 40 |
| (Heft-)Nummer: | 7 |
| DOI: | 10.1016/j.ndteint.2007.02.004 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Strukturforschung 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 23 Sep 2009 13:28 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 09:23 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
Verfügbare Versionen dieses Eintrags
-
The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si. (deposited 14 Sep 2009 07:44)
- The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si. (deposited 23 Sep 2009 13:28) [Gegenwärtig angezeigt]
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum