TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si

Wali, Y. ; Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Ben Ghozlen, M. H. :
The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1016/j.ndteint.2007.02.004]
In: NDT and E International, 40 (7) pp. 545-551. ISSN 0963-8695
[Artikel], (2007)

Dies ist die neueste Version dieses Eintrags.

Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.ndteint.2007.02.004
Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2007
Autor(en): Wali, Y. ; Njeh, Anouar ; Wieder, Thomas ; Ben Ghozlen, M. H.
Titel: The Effect of depth-dependent Residual Stresses on the Propagation Behavior of Surface Acoustic Waves in thin Ag films on Si
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: NDT and E International
Band: 40
(Heft-)Nummer: 7
Verlag: ELSEVIER
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Strukturforschung
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 23 Sep 2009 13:28
Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.ndteint.2007.02.004
ID-Nummer: 10.1016/j.ndteint.2007.02.004
Export:

Verfügbare Versionen dieses Eintrags

Optionen (nur für Redakteure)

Eintrag anzeigen Eintrag anzeigen