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Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF

Kimmel, Giora ; Politi, L. ; Wieder, Thomas :
Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF.
In: Advances of X-Ray Analysis, 37 pp. 175-183.
[Artikel], (1994)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1994
Autor(en): Kimmel, Giora ; Politi, L. ; Wieder, Thomas
Titel: Characterization of (Ti,Al)N Films by XRD and XRF
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Advances of X-Ray Analysis
Band: 37
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Strukturforschung
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 14 Sep 2009 06:53
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