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X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films

Siejkowski,, Waldemar ; Calderero-Lopez, A: ; Wieder, Thomas ; Gärtner, Helmut :
X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films.
In: Metalurgia I Odlewnictwo, 17 pp. 427-434.
[Artikel], (1991)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1991
Autor(en): Siejkowski,, Waldemar ; Calderero-Lopez, A: ; Wieder, Thomas ; Gärtner, Helmut
Titel: X-Ray Analysis of Oxidized and Sulfidized Thin Nickel Films
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Metalurgia I Odlewnictwo
Band: 17
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften > Strukturforschung
Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaften
Fachbereich Material- und Geowissenschaften
Hinterlegungsdatum: 14 Sep 2009 07:03
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