TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Blättern nach Person

Ebene hoch
Exportieren als [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Publikationsjahr | Sprache
Anzahl der Einträge: 5.

Artikel

Iida, Tsutomu ; Makita, Yunosuke ; Shima, Takayuki ; Kimura, Shinji ; Horn, Joachim ; Hartnagel, Hans L. ; Uekusa, Shin‐ichiro (1996)
C+-energy-dependent residual ion damage in GaAs: C grown by the low-energy ion-beam doping method.
In: Journal of Applied Physics, 80 (7)
doi: 10.1063/1.363306
Artikel, Bibliographie

Horn, Joachim ; Pavlidis, Dimitris ; Park, Yongjo ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN.
In: Materials Science and Engineering: B, 44 (1/3)
doi: 10.1016/S0921-5107(96)01791-6
Artikel, Bibliographie

Stehle, M. ; Bischoff, M. ; Pagnia, H. ; Horn, Joachim ; Marx, N. ; Weiss, B. L. ; Hartnagel, H. L. (1995)
Time-resolved luminscence measurements on GaAs homostructures using pulse excitation of a scanning tunneling microscope.
In: Journal of Vacuum Science and Technology B, 13
doi: 10.1116/1.588370
Artikel, Bibliographie

Buchkapitel

Horn, Joachim ; Marx, N. ; Weiss, B. L. ; Hartnagel, H. L. ; Stehle, M. ; Bischoff, M. ; Pagnia, H. (1995)
High resolution surface characterization using STM light emission techniques.
In: Passivation of metals and semiconductors
Buchkapitel, Bibliographie

Dissertation

Horn, Joachim (1998)
Lumineszenzuntersuchungen an Verbindungshalbleitern nach Anregung mit einem Rastertunnelmikroskop.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie

Diese Liste wurde am Tue Nov 19 02:50:53 2024 CET generiert.