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Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN

Horn, Joachim ; Pavlidis, ; Park, ; Hartnagel, :
Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN.
In: EXMATEC: International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies <3, 1996, Breisgau>: Proceedings .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1996)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1996
Autor(en): Horn, Joachim ; Pavlidis, ; Park, ; Hartnagel,
Titel: Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN
Sprache: Englisch
Reihe: EXMATEC: International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies <3, 1996, Breisgau>: Proceedings
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
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