Deutsch

Horn, Joachim (1998)
Lumineszenzuntersuchungen an Verbindungshalbleitern nach Anregung mit einem Rastertunnelmikroskop.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie

Horn, Joachim ; Marx, ; Weiss, ; Hartnagel, ; Stehle, ; Bischoff, ; Pagnia, (1995)
High resolution surface characterization using STM light emission techniques.
In: Passivation of metals and semiconductors, Auflage: Aedermannsdorf: Trans Tech Publ., 1995
Buchkapitel, Bibliographie

Englisch

Iida, Tsutomu ; Makita, Yunosuke ; Shima, Takayuki ; Kimura, Shinji ; Horn, Joachim ; Hartnagel, Hans L. ; Uekusa, Shin‐ichiro (1996)
C+-energy-dependent residual ion damage in GaAs: C grown by the low-energy ion-beam doping method.
In: Journal of Applied Physics, 80 (7)
doi: 10.1063/1.363306
Artikel, Bibliographie

Horn, Joachim ; Pavlidis, Dimitris ; Park, Yongjo ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Scanning tunneling microscopy characterization of MOCVD grown GaN.
In: Materials Science and Engineering: B, 44 (1/3)
doi: 10.1016/S0921-5107(96)01791-6
Artikel, Bibliographie