Horn, Joachim ; Marx, N. ; Weiss, B. L. ; Hartnagel, H. L. ; Stehle, M. ; Bischoff, M. ; Pagnia, H. (1995)
High resolution surface characterization using STM light emission techniques.
In: Passivation of metals and semiconductors
Buchkapitel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Buchkapitel |
|---|---|
| Erschienen: | 1995 |
| Autor(en): | Horn, Joachim ; Marx, N. ; Weiss, B. L. ; Hartnagel, H. L. ; Stehle, M. ; Bischoff, M. ; Pagnia, H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | High resolution surface characterization using STM light emission techniques |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1995 |
| Ort: | Aedermannsdorf |
| Verlag: | Trans Tech Publ |
| Buchtitel: | Passivation of metals and semiconductors |
| Band einer Reihe: | 185-18 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 15:58 |
| Letzte Änderung: | 23 Apr 2024 11:56 |
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