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High resolution surface characterization using STM light emission techniques

Horn, Joachim ; Marx, ; Weiss, ; Hartnagel, ; Stehle, ; Bischoff, ; Pagnia, :
High resolution surface characterization using STM light emission techniques.
In: Passivation of metals and semiconductors. Hrsg.: K.E. Heusler. S. 145-154. Trans Tech Publ, Aedermannsdorf
[Buchkapitel], (1995)

Typ des Eintrags: Buchkapitel
Erschienen: 1995
Autor(en): Horn, Joachim ; Marx, ; Weiss, ; Hartnagel, ; Stehle, ; Bischoff, ; Pagnia,
Titel: High resolution surface characterization using STM light emission techniques
Sprache: Deutsch
Buchtitel: Passivation of metals and semiconductors. Hrsg.: K.E. Heusler. S. 145-154
Band: 185-18
Ort: Aedermannsdorf
Verlag: Trans Tech Publ
Edition: Aedermannsdorf: Trans Tech Publ., 1995
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 15:58
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