Iida, Tsutomu ; Makita, Yunosuke ; Shima, Takayuki ; Kimura, Shinji ; Horn, Joachim ; Hartnagel, Hans L. ; Uekusa, Shin‐ichiro (1996)
C+-energy-dependent residual ion damage in GaAs: C grown by the low-energy ion-beam doping method.
In: Journal of Applied Physics, 80 (7)
doi: 10.1063/1.363306
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1996 |
| Autor(en): | Iida, Tsutomu ; Makita, Yunosuke ; Shima, Takayuki ; Kimura, Shinji ; Horn, Joachim ; Hartnagel, Hans L. ; Uekusa, Shin‐ichiro |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | C+-energy-dependent residual ion damage in GaAs: C grown by the low-energy ion-beam doping method |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1996 |
| Verlag: | AIP Publishing |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Applied Physics |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 80 |
| (Heft-)Nummer: | 7 |
| DOI: | 10.1063/1.363306 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:04 |
| Letzte Änderung: | 13 Dez 2023 14:23 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum