Buchkapitel

Duque, David José ; Casper, Thorben ; Schöps, Sebastian ; De Gersem, Herbert ; Römer, Ulrich ; Gillon, Renaud ; Wieers, Aarnout ; Kratochvíl, Tomáš ; Götthans, Tomáš ; Meuris, Peter (2019)
Bond Wire Models.
In: Nanoelectronic Coupled Problems Solutions
doi: 10.1007/978-3-030-30726-4_3
Buchkapitel, Bibliographie

Casper, Thorben ; De Gersem, Herbert ; Gillon, Renaud ; Gotthans, Tomas ; Kratochvíl, Tomáš ; Meuris, Peter ; Schöps, Sebastian
Hrsg.: Fanucci, Luca ; Teich, Jürgen (2016)
Electrothermal Simulation of Bonding Wire Degradation under Uncertain Geometries.
In: Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
Buchkapitel, Bibliographie

Konferenzveröffentlichung

Günther, Michael ; Putek, Piotr ; Maten, E. Jan W. ter ; Pulch, Roland ; Schoenmaker, Wim ; Meuris, Peter ; Wieers, Aarnout ; Deleu, Frederik (2015)
Uncertainty Quantification in Electro-Thermal Coupled Problems based on a Power Transistor Device.
MATHMOD 2015 - 8th Vienna International Conference on Mathematical Modelling.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie