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Uncertainty Quantification in Electro-Thermal Coupled Problems based on a Power Transistor Device

Günther, Michael ; Putek, Piotr ; ter Maten, E. Jan W. ; Pulch, Roland ; Schoenmaker, Wim ; Meuris, Peter ; Wieers, Aarnout ; Deleu, Frederik :
Uncertainty Quantification in Electro-Thermal Coupled Problems based on a Power Transistor Device.
In: MATHMOD 2015 - 8th Vienna International Conference on Mathematical Modelling.
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (2015)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 2015
Autor(en): Günther, Michael ; Putek, Piotr ; ter Maten, E. Jan W. ; Pulch, Roland ; Schoenmaker, Wim ; Meuris, Peter ; Wieers, Aarnout ; Deleu, Frederik
Titel: Uncertainty Quantification in Electro-Thermal Coupled Problems based on a Power Transistor Device
Sprache: Deutsch
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder > Computational Engineering
Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen > Graduate School of Computational Engineering (CE)
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Theorie Elektromagnetischer Felder
Exzellenzinitiative > Graduiertenschulen
Exzellenzinitiative
Veranstaltungstitel: MATHMOD 2015 - 8th Vienna International Conference on Mathematical Modelling
Hinterlegungsdatum: 30 Aug 2017 06:29
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