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Combining advanced photoelectron spectroscopy approaches to analyse deeply buried GaP(As)/Si(1 0 0) interfaces: Interfacial chemical states and complete band energy diagrams.
In: Applied Surface Science, 605
doi: 10.1016/j.apsusc.2022.154630
Artikel, Bibliographie
Sharath, S. U. ; Bertaud, T. ; Kurian, J. ; Hildebrandt, E. ; Walczyk, C. ; Calka, P. ; Zaumseil, P. ; Sowinska, M. ; Walczyk, D. ; Gloskovskii, A. ; Schroeder, T. ; Alff, L. (2014)
Towards forming-free resistive switching in oxygen engineered HfO2−x.
In: Applied Physics Letters, 104 (6)
doi: 10.1063/1.4864653
Artikel, Bibliographie