TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Blättern nach Person

Ebene hoch
Exportieren als [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Publikationsjahr | Sprache
Anzahl der Einträge: 10.

Hartnagel, Hans L. ; Mutamba, Kabula ; Brandt, Michael ; Yilmazoglu, Oktay (2002)
Verbindungshalbleitersensorik für mechatronische Systeme.
In: Mechatronische Systeme für den Maschinenbau : Ergebnisse aus dem SFB 241 "Integrierte mechanisch-elektronische Systeme für den Maschinenbau" (IMES)
Buchkapitel, Bibliographie

Brandt, Michael (2000)
Verbindungshalbleiter-Mikrosensorik mit integrierter Telemetrie und Zuverlässigkeit relevanter III-V-Bauelemente.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie

Brandt, Michael ; Bachmann, V. ; Vogt, A. ; Fach, M. ; Mayer, K. ; Breuer, B. ; Hartnagel, H. L. (1998)
Highly sensitive AlGaAs/GaAs position sensors for measurement of tyre tread deformation.
In: Electronics Letters, 34 (8)
doi: 10.1049/el:19980520
Artikel, Bibliographie

Krozer, Viktor ; Brandt, Michael ; Schüßler, Martin ; Hartnagel, Hans L. (1998)
Application of transmission line pulses for reliability characterisation of high temperature devices.
4th International High Temperature Electronics Conference (HiTEC '98). Albuquerque, NM, USA (14.06.1998-18.06.1998)
doi: 10.1109/HITEC.1998.676775
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Brandt, Michael ; Krozer, V. ; Schüßler, M. ; Lin, C. ; Simon, A. ; Vogt, A. ; Rodriguez-Girones Arboli, Manuel ; Parmeggiani, E. ; Grajal, J. (1998)
Application of transmission line pulsed (TLP) stress for thermal and reliability characterisation of compound semiconductor devices.
Reliability Center of Japan (RCJ) Symposium. Tokyo (1998)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Brandt, Michael ; Schüßler, M. ; Parmeggiani, E. ; Lin, C. ; Simon, A. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Thermal simulation and characterisation of the reliability of terahertz Schottky diodes.
In: Microelectronics Reliability, 37 (10-11)
doi: 10.1016/S0026-2714(97)00134-0
Artikel, Bibliographie

Brandt, Michael ; Schüßler, M. ; Krozer, V. ; Grajal, J. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Transmission line pulse based reliability investigations of HBTs.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Brandt, Michael ; Schüßler, Martin ; Lin, C. ; Simon, Ansgar ; Hartnagel, Hans L.
Hrsg.: Kaldeich-Schürmann, Brigitte (1997)
Transmission line pulse based reliability investigations of THz Schottky diodes.
3. ESA Electronic Components Conference. Noordwijk, NL (22.04.1997-25.04.1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Brandt, Michael ; Krozer, Viktor ; Schüßler, M. ; Bock, K.-H. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses.
In: Microelectronics reliability, 36 (11/12)
doi: 10.1016/0026-2714(96)00222-3
Artikel, Bibliographie

Brandt, Michael ; Schüßler, M. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Characterisation of the reliability of planar Schottky diodes for millimetre and submillimetre wave applications.
European Space Research and Technology Centre: ESA-ESTEC. Noordwijk, NL (14.11.1996-15.11.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Diese Liste wurde am Sat Dec 21 02:31:28 2024 CET generiert.