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Brandt, Michael ; Krozer, Viktor ; Schüßler, M. ; Bock, K.-H. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses.
In: Microelectronics reliability, 36 (11/12)
doi: 10.1016/0026-2714(96)00222-3
Artikel, Bibliographie
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