TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Thermal simulation and characterisation of the reliability of terahertz Schottky diodes

Brandt, Michael ; Schüßler, ; Parmeggiani, ; Lin, ; Simon, ; Hartnagel, :
Thermal simulation and characterisation of the reliability of terahertz Schottky diodes.
In: European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <8, 1997, Arcachon, France>: Proceedings. S. 1663-1666 .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1997)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1997
Autor(en): Brandt, Michael ; Schüßler, ; Parmeggiani, ; Lin, ; Simon, ; Hartnagel,
Titel: Thermal simulation and characterisation of the reliability of terahertz Schottky diodes
Sprache: Englisch
Reihe: European Symposium of Electron Devices, Failure Physics and Analysis <8, 1997, Arcachon, France>: Proceedings. S. 1663-1666
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:04
Export:

Optionen (nur für Redakteure)

Eintrag anzeigen Eintrag anzeigen