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Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses

Brandt, Michael ; Krozer, ; Schüßler, ; Bock, ; Hartnagel, :
Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses.
In: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1891-1894
[Artikel], (1996)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1996
Autor(en): Brandt, Michael ; Krozer, ; Schüßler, ; Bock, ; Hartnagel,
Titel: Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1891-1894
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:03
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