| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
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| Erschienen: |
1998 |
| Autor(en): |
Krozer, Viktor ; Brandt, Michael ; Schüßler, Martin ; Hartnagel, Hans L. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
Application of transmission line pulses for reliability characterisation of high temperature devices |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
1998 |
| Ort: |
New York City, NY |
| Verlag: |
IEEE |
| Buchtitel: |
1998 Fourth International High Temperature Electronics Conference (HITEC) : Albuquerque, New Mexico, USA, June 14 - 18, 1998 |
| Veranstaltungstitel: |
4th International High Temperature Electronics Conference (HiTEC '98) |
| Veranstaltungsort: |
Albuquerque, NM, USA |
| Veranstaltungsdatum: |
June 14-18, 1998 |
| DOI: |
10.1109/HITEC.1998.676775 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:22 |
| Letzte Änderung: |
12 Dez 2023 11:20 |
| PPN: |
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| Export: |
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