Englisch

Brandt, Michael ; Krozer, ; Schüßler, ; Lin, ; Simon, ; Vogt, ; Rodriguez, ; Parmeggiani, ; Grajal, (1998)
Application of transmission line pulsed (TLP) stress for thermal and reliability characterisation of compound semiconductor devices.
Konferenzveröffentlichung

Lin, Chih-I. ; Krozer, V. ; Grajal, ; Simon, A. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Schottky varactor diode optimation for frequency multipliers.
Konferenzveröffentlichung

Brandt, Michael ; Schüßler, ; Krozer, ; Grajal, ; Hartnagel, (1997)
Transmission line pulse based reliability investigations of HBTs.
Konferenzveröffentlichung