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Anzahl der Einträge: 6.

Schuessler, M. ; Statzner, ; Lin, ; Krozer, ; Horn, ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Electrochemical deposition of Pd, Ti, and Ge for applications in GaAs technology.
In: Journal of the Electrochemical Society. 143 (1996), No. 4, S. 73-75
Artikel, Bibliographie

Dehé, Alfons ; Klingbeil, ; Krozer, ; Fricke, ; Beilenhoff, ; Hartnagel, (1996)
GaAs monolithic integrated microwave power sensor in coplanar waveguide technology.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Schuessler, M. ; Krozer, ; Bock, ; Brandt, ; Vecchi, ; Losi, ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs.
In: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1907-1910
Artikel, Bibliographie

Pantoja, J. M. M. ; Grüb, Andreas ; Krozer, ; Franco, (1995)
Accuracy of nonoscillating one-port noise measurements.
In: IEEE Transactions on instrumentation and measurement. 44 (1995), No. 4, S. 853-859
Artikel, Bibliographie

Schuessler, M. ; Krozer, ; Pfeiffer, ; Statzner, ; Lee, ; Hartnagel, Hans L. (1995)
AlGaAs/GaAs and GaInP/GaAs HBT for high temperature microwave operation.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Grüb, Andreas ; Simon, ; Krozer, ; Lin, ; Shaalan, ; Beilenhoff, ; Sigurdardottir, A. ; Hartnagel, H. L. (1995)
Terahertz research at TH Darmstadt.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

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