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Anzahl der Einträge: 10.

Khanna, V. K. ; Kumar, A. ; Maj, B. ; Kostka, A. ; Sood, S. C. ; Gupta, R. P. ; Jasuja, K. L. (2001)
Physical insight into thermal behaviour of power DMOSFET and IGBT: a two dimensional computer simulation study.
In: Physica Status Solidi A, 185 (2)
doi: 10.1002/1521-396X(200106)185:2<309::AID-PSSA309>3.0.CO;2-L
Artikel, Bibliographie

Maj, Bartosz ; Augustin, A. ; Kostka, A. (2001)
Heat propagation in h-bridge smart power chips under switching conditions.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Khanna, V. K. ; Kumar, A. ; Sood, S. C. ; Gupta, R. P. ; Jasuja, K. L. ; Maj, B. ; Kostka, A. (2001)
Investigation of degeneracy of current-voltage characteristics of asymmetrical IGBT with N-Buffer layer concentration.
In: Solid state electronics, 45
Artikel, Bibliographie

Huertgen, Jürgen ; Hille, P. ; Kostka, A. (2001)
Modeling leakage currents in the high temperature range of CMOS-Devices in silicon based technology.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Khanna, V. K. ; Kumar, A. ; Sood, S. C. ; Gupta, R. P. ; Jasuja, K. L. ; Maj, B. ; Kostka, A. (2001)
Power IGBT design and characterization by two-dimensional thermal simulation.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Kumar, A. ; Khanna, V. K. ; Gupta, R. P. ; Jasuja, K. L. ; Maj, B. ; Kostka, A. (1999)
2-D simulation studies of avalanche breakdown in power DMOSFET structures with multiple field rings.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Krawczyk, S. K. ; Bejar, M. ; Nuban, N. F. ; Blanchet, R. C. ; Kostka, A. ; Warta, W. ; Joly, J. P.
Hrsg.: Doneker, J. (1997)
New scanning photoluminescence technique for quantitative mapping of the lifetime and of the doping density in processed silicon wafers.
Seventh Conference on Defect Recognition and Image Processing. Templin (7.-10. September 1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Klös, Alexander ; Freund, D. ; Kostka, A. (1997)
Physics-based, predictive compact modeling of lateral bipolar transistors and shortchannel MOSFETs by conformal mappings.
In: VDI/VDE International Congress on Microelectronics : Proceedings
Buchkapitel, Bibliographie

Klös, A. ; Kostka, A. (1996)
A new analytical method of solving 2D Poisson's equation in MOS devices applied to threshold voltage and subthreshold modeling.
In: Solid state electronics, 39 (12)
doi: 10.1016/S0038-1101(96)00122-0
Artikel, Bibliographie

Freund, D. ; Klös, A. ; Kostka, A. (1996)
Conformal mapping techniques for the analytical, 2-dimensional calculation of currents in lateral bipolar transistor structures.
In: Solid state electronics, 39 (4)
doi: 10.1016/0038-1101(96)00157-8
Artikel, Bibliographie

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