| Typ des Eintrags: |
Konferenzveröffentlichung
|
| Erschienen: |
1997 |
| Herausgeber: |
Doneker, J. |
| Autor(en): |
Krawczyk, S. K. ; Bejar, M. ; Nuban, N. F. ; Blanchet, R. C. ; Kostka, A. ; Warta, W. ; Joly, J. P. |
| Art des Eintrags: |
Bibliographie |
| Titel: |
New scanning photoluminescence technique for quantitative mapping of the lifetime and of the doping density in processed silicon wafers |
| Sprache: |
Englisch |
| Publikationsjahr: |
1997 |
| Ort: |
Bristol |
| Verlag: |
Inst. of Physics Publ. |
| Buchtitel: |
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 |
| Reihe: |
International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors <7, 1997, Templin, Germany>: Proceedings |
| Kollation: |
4 Seiten |
| Veranstaltungstitel: |
Seventh Conference on Defect Recognition and Image Processing |
| Veranstaltungsort: |
Templin |
| Veranstaltungsdatum: |
7.-10. September 1997 |
| Zusätzliche Informationen: |
Chapter 31 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): |
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik |
| Hinterlegungsdatum: |
19 Nov 2008 16:04 |
| Letzte Änderung: |
18 Apr 2024 13:33 |
| PPN: |
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| Export: |
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