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Artikel
Niu, G. ; Schubert, M. A. ; Sharath, S. U. ; Zaumseil, P. ; Vogel, S. ; Wenger, C. ; Hildebrandt, E. ; Bhupathi, S. ; Perez, E. ; Alff, L. ; Lehmann, M. ; Schroeder, T. ; Niermann, T. (2017)
Electron holography on HfO2/HfO2−x bilayer structures with multilevel resistive switching properties.
In: Nanotechnology, 28 (21)
doi: 10.1088/1361-6528/aa6cd9
Artikel, Bibliographie
Niu, G. ; Schubert, M. A. ; Sharath, S. U. ; Zaumseil, P. ; Vogel, S. ; Wenger, C. ; Hildebrandt, E. ; Bhupathi, S. ; Perez, E. ; Alff, L. ; Lehmann, M. ; Schroeder, T. ; Niermann, T. (2017)
Electron holography on HfO2/HfO2−xbilayer structures with multilevel resistive switching properties.
In: Nanotechnology, 28 (21)
doi: 10.1088/1361-6528/aa6cd9
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