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Brandt, Michael ; Krozer, ; Schüßler, ; Lin, ; Simon, ; Vogt, ; Rodriguez, ; Parmeggiani, ; Grajal, (1998)
Application of transmission line pulsed (TLP) stress for thermal and reliability characterisation of compound semiconductor devices.
Konferenzveröffentlichung

Diese Liste wurde am Tue Oct 31 01:57:46 2023 CET generiert.

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