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Anzahl der Einträge: 13.

2016

Dornuf, Fabian ; Dörr, Roland ; Laemmle, David ; Schlaak, Helmut F. ; Krozer, Viktor (2016)
Sensor structure concepts for the analysis or local radiation exposure of biological samples at Terahertz and Millimeter Wave Frequencies.
Photonic West 2016. USA, San Francisco (13.02.2016-18.02.2016)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

2004

Dehé, Alfons ; Beilenhoff, Klaus ; Fricke, Klaus ; Klingbeil, Harald ; Krozer, Viktor ; Hartnagel, Hans L.
Hrsg.: Webster, John G. (2004)
Microwave measurement.
In: Electrical measurements, signal processing and displays
Buchkapitel, Bibliographie

Krozer, Viktor ; Leone, B. ; Roskos, H. ; Löffler, T. ; Loata, G. ; Döhler, G. ; Renner, F. ; Eckardt, S. ; Malzer, S. ; Schwanhäusser, A. ; Klaassen, T. O. ; Adam, A. ; Lugli, P. ; Di Carlo, A. ; Manenti, M. ; Scamarcio, G. ; Vitiello, M. S. ; Feiginov, Michael N. (2004)
Optical far-IR wave generation - state-of-the-art and advanced device structures.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

2003

Leone, B. ; Krozer, Viktor ; Feiginov, Michael N. ; Roskos, H. G. ; Quast, H. ; Löffler, T. ; Loata, G. ; Döhler, G. ; Kiesel, P. ; Eckardt, M. ; Schwanhäusser, A. ; Klaassen, T. O. ; Lugli, P. (2003)
Optical far-IR wave generation : an ESA review study.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

2002

Tong, M. ; Schuessler, M. ; Müller, Stefan ; Krozer, Viktor ; Freese, Jens ; Jakoby, Rolf (2002)
Analysis of photonic band-gap (PBG) structure using finite difference time domain (FDTD) algorithm.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Tong, Ming-Sze ; Schuessler, M. ; Müller, Stefan ; Krozer, Viktor ; Freese, Jens (2002)
Analysis of Photonic Band-Gap (PBG) Structure using Finite Difference Time Domain (FDTD) Algorithm.
Proc. of the 32th European Microwave Conference.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

1998

Krozer, Viktor ; Brandt, Michael ; Schüßler, Martin ; Hartnagel, Hans L. (1998)
Application of transmission line pulses for reliability characterisation of high temperature devices.
4th International High Temperature Electronics Conference (HiTEC '98). Albuquerque, NM, USA (14.06.1998-18.06.1998)
doi: 10.1109/HITEC.1998.676775
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

1996

Krozer, Viktor ; Ruppert, Markus ; Schüßler, Martin ; Fricke, Klaus ; Lee, Woo-Yong ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Calculation of the power capabilities of HBT amplifiers based on a new physical HBT model.
In: International Journal of Microwave and Millimeter-Wave Computer-Aided Engineering, 6 (4)
doi: 10.1002/(SICI)1522-6301(199607)6:4<270::AID-MMCE6>3.0.CO;2-R
Artikel, Bibliographie

Brandt, Michael ; Krozer, Viktor ; Schüßler, M. ; Bock, K.-H. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Characterisation of reliability of compound semiconductor devices using electrical pulses.
In: Microelectronics reliability, 36 (11/12)
doi: 10.1016/0026-2714(96)00222-3
Artikel, Bibliographie

Dehé, Alfons ; Klingbeil, Harald ; Krozer, Viktor ; Fricke, Klaus ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1996)
GaAs integrated thermoelectric microwave power sensor.
20th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits. Vilnius, Lithuania (19.05.1996-22.05.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Dehé, Alfons ; Krozer, Viktor ; Chen, B. ; Hartnagel, Hans L. (1996)
High-sensitivity microwave power sensor for GaAs-MMIC implementation.
In: Electronic letters, 32 (23)
doi: 10.1049/el:19961416
Artikel, Bibliographie

1995

Krozer, Viktor ; Würfl, J. ; Fricke, K. ; Schüßler, M. ; Lee, W. Y. ; Hartnagel, Hans L. (1995)
High temperature electronics with III-V compound semiconductors.
In: HITEN news, (9)
Artikel, Bibliographie

Krozer, Viktor ; Würfl, J. ; Fricke, K. ; Schüßler, M. ; Lee, W. Y. ; Hartnagel, Hans L. (1995)
High temperature microwave modeling and circuit design with MESFET's and HBT's.
URSI International Symposium on Signals, Systems, and Electronics (ISSSE '95). San Francisco, USA (25.10.1995-27.10.1995)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

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