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Dehé, Alfons ; Beilenhoff, Klaus ; Fricke, Klaus ; Klingbeil, Harald ; Krozer, Viktor ; Hartnagel, Hans L.
Hrsg.: Webster, John G. (2004)
Microwave measurement.
In: Electrical measurements, signal processing and displays
Buchkapitel, Bibliographie
Megej, Alexander ; Beilenhoff, Klaus ; Schuessler, M. ; Ziroff, A. ; Mottet, Bastian ; Yilmazoglu, Oktay ; Mutamba, Kabula ; Hamann, C. D. ; Baican, R. ; Hartnagel, Hans L. (2002)
Integrated microwave sensor for cavity-length measurement in machine engineering.
In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, 5 (12)
Artikel, Bibliographie
Megej, Alexander ; Beilenhoff, Klaus ; Schuessler, M. ; Ziroff, A. ; Mottet, Bastian ; Yilmazoglu, Oktay ; Mutamba, Kabula ; Hamann, C. D. ; Baican, R. ; Hartnagel, Hans L. (2002)
Integrated microwave sensor for cavity-length measurement with sub-millimeter accuracy.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Mutamba, Kabula ; Megej, Alexander ; Beilenhoff, Klaus ; Weinzierl, J. ; Hartnagel, Hans L. (2002)
Technology of compound semiconductor MEMS for millimeter-wave power measurement.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Beilenhoff, Klaus (1999)
Device models for (M)MIC circuit design - benefits and limitations.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Beilenhoff, Klaus ; Mutamba, K. ; Simon, A. ; Hartnagel, H. L. (1999)
III-V Semiconductor structuring for mm and sub-mm waves.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Klingbeil, Harald ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1997)
Analyse und Modellierung der Leiterverluste von Luftbrücken für MMIC-typische Komplanarleitungen.
MIOP '97: 9. Kongressmesse für Hochfrequenztechnik, Funkkommunikation und Elektromagnetische Verträglichkeit. Sindelfingen (22.04.1997-24.04.1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Klingbeil, Harald ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1997)
Rigorous numerical simulation and modeling of coplanar discontinuities.
International IEEE Workshop on Experimentally based FET Device Modelling and Related Nonlinear Circuit Design. Kassel (17.07.1997-18.07.1997)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Klingbeil, Harald ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Finite-difference analysis structures consisting of roundly and rectangular shaped domains.
In: IEEE Microwave and Guided Wave Letters, 6 (8)
doi: 10.1109/75.508558
Artikel, Bibliographie
Dehé, Alfons ; Klingbeil, Harald ; Krozer, Viktor ; Fricke, Klaus ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1996)
GaAs integrated thermoelectric microwave power sensor.
20th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits. Vilnius, Lithuania (19.05.1996-22.05.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Beilenhoff, Klaus ; Klingbeil, K. ; Hartnagel, H. L. (1996)
Parasitic effects of CPW discontinuities for MMIC applications.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Riipulk, Jevgeni ; Hinrikus, Hiie ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Simulation of breast tissues temperature measurement using Dicke radiometer by FDTD method.
In: Medical & biological engineering & computing, 34 (Suppl. 1, Part 2)
Artikel, Bibliographie
Riipulk, Jevgeni ; Hinrikus, Hiie ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Simulation of microwave radiometric temperature measurement inside biological tissues using FDTD method.
Third International Congress of the European Bio-Electromagnetics Association (EBEA Nancy'96). Nancy, France (29.02.1996-03.03.1996)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Beilenhoff, Klaus (1996)
Simulation und Modellierung von Leitungs-Diskontinuitäten und -Verzweigungen für monolithisch integrierte Millimeterwellenschaltungen.
Technische Universität Darmstadt
Dissertation, Bibliographie
Klingbeil, Harald ; Beilenhoff, Klaus ; Hartnagel, Hans L. (1995)
Analyse und Modellierung des rechtwinkligen Koplanarleitungs-Winkels.
MIOP '95, 8. Kongreßmesse für Hochfrequenztechnik. Sindelfingen (30.05.1995-01.06.1995)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
Beilenhoff, Klaus ; Heinrich, W. ; Hartnagel, H. L. (1995)
Analysis of MIM series capacitances for coplanar MMICs.
Microwaves and optoelectronics (MIOP '95). Sindelfingen (30.05.1995-01.06.1995)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie