Artikel

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Artikel, Bibliographie

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Yb2O3-Fluxed Sintered Silicon Nitride, Part 1 Microstructure Characterization.
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Artikel, Bibliographie

Vetrano, J. S. ; Kleebe, H.-J. ; Hampp, E. ; Hoffmann, M. J. ; Cannon, R. M. (1992)
Epitaxial Deposition of Silicon-Nitride During Post-Sintering Heat-Treatment.
In: Journal of Materials Science Letters, 11 (18)
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Artikel, Bibliographie

Kleebe, H.-J. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. (1992)
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Artikel, Bibliographie

Buchkapitel

Hoffmann, M. J. ; Kungl, H. ; Theissmann, R. ; Wagner, S.
Hrsg.: Heywang, W. ; Lubitz, K. ; Werding, W. (2008)
Microstructural Analysis Based on Microscopy and X-Ray Diffraction.
In: Piezoelectricity. Evolution and Future of a Technology.
doi: 10.1007/978-3-540-68683-5
Buchkapitel, Bibliographie