Vetrano, J. S. ; Kleebe, H.-J. ; Hampp, E. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. ; Cannon, R. M. (1993)
Yb2O3-Fluxed Sintered Silicon Nitride, Part 1 Microstructure Characterization.
In: Journal of Materials Science, 28 (13)
doi: 10.1007/bf01159834
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1993 |
| Autor(en): | Vetrano, J. S. ; Kleebe, H.-J. ; Hampp, E. ; Hoffmann, M. J. ; Rühle, M. ; Cannon, R. M. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Yb2O3-Fluxed Sintered Silicon Nitride, Part 1 Microstructure Characterization |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1993 |
| Verlag: | Springer Nature |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Journal of Materials Science |
| Jahrgang/Volume einer Zeitschrift: | 28 |
| (Heft-)Nummer: | 13 |
| DOI: | 10.1007/bf01159834 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Geowissenschaften > Fachgebiet Geomaterialwissenschaft |
| Hinterlegungsdatum: | 17 Nov 2021 12:07 |
| Letzte Änderung: | 17 Nov 2021 12:07 |
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