1997

Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Gastel, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. (1997)
Comparative studies of SIMS and SNMS analyses during the build up of sputter equilibrium under oxygen and rare gas ion bombardment.
In: Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 358
doi: 10.1007/s002160050342
Artikel, Bibliographie

Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Gastel, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J.
Hrsg.: Benninghoven, A. (1997)
Comparison of SIMS and e-beam SNMS depth profiling results using oxygen, cesium and argon as primary ions.
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). Muenster (October 1-6, 1995)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. (1997)
Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS.
In: Fresenius journal of analytical chemistry. 358 (1997), S. 207-210
Artikel, Bibliographie

Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Kubon, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. (1997)
Investigation of cross-contaminations near the TCO/p-layer interface of a-Si thin film solar cells using SNMS and SIMS.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie