Breuer, U. ; Holzbrecher, ; Gastel, ; Becker, ; Dietze,
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Comparison of SIMS and e-beam SNMS depth profiling results using oxygen, cesium and argon as primary ions.
In: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <10, 1997>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.) S. 391-394
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Wiley
, Chicheter
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1997)
| Typ des Eintrags: | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe) |
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| Erschienen: | 1997 |
| Autor(en): | Breuer, U. ; Holzbrecher, ; Gastel, ; Becker, ; Dietze, |
| Titel: | Comparison of SIMS and e-beam SNMS depth profiling results using oxygen, cesium and argon as primary ions |
| Sprache: | Englisch |
| Reihe: | International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <10, 1997>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.) S. 391-394 |
| Ort: | Chicheter |
| Verlag: | Wiley |
| Edition: | Chicheter: Wiley, 1997 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
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