Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Gastel, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J.
Hrsg.: Benninghoven, A. (1997)
Comparison of SIMS and e-beam SNMS depth profiling results using oxygen, cesium and argon as primary ions.
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). Muenster (October 1-6, 1995)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Herausgeber: | Benninghoven, A. |
| Autor(en): | Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Gastel, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Comparison of SIMS and e-beam SNMS depth profiling results using oxygen, cesium and argon as primary ions |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Ort: | Chicheter |
| Verlag: | Wiley |
| Buchtitel: | Secondary ion mass spectrometry |
| Reihe: | International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <10, 1997>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.) S. 391-394 |
| Veranstaltungstitel: | International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X) |
| Veranstaltungsort: | Muenster |
| Veranstaltungsdatum: | October 1-6, 1995 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 18 Apr 2024 08:57 |
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