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Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS

Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. :
Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS.
In: Fresenius journal of analytical chemistry. 358 (1997), S. 207-210
[Artikel], (1997)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1997
Autor(en): Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H.
Titel: Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Fresenius journal of analytical chemistry. 358 (1997), S. 207-210
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:23
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