Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. (1997)
Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS.
In: Fresenius journal of analytical chemistry. 358 (1997), S. 207-210
Artikel, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Autor(en): | Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Depth profile analysis of thin film solar cells using SNMS and SIMS |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Fresenius journal of analytical chemistry. 358 (1997), S. 207-210 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:30 |
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