Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Kubon, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. (1997)
Investigation of cross-contaminations near the TCO/p-layer interface of a-Si thin film solar cells using SNMS and SIMS.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 1997 |
| Autor(en): | Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Kubon, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Investigation of cross-contaminations near the TCO/p-layer interface of a-Si thin film solar cells using SNMS and SIMS |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 1997 |
| Ort: | Chichester |
| Verlag: | Wiley |
| Reihe: | International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <10, 1997>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.) S. 913-916. - Chichester: Wiley, 1997 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Fachbereich Materialwissenschaft (1999 aufgegangen in 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften) 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften |
| Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
| Letzte Änderung: | 05 Mär 2013 08:46 |
| PPN: | |
| Export: | |
| Suche nach Titel in: | TUfind oder in Google |
 |
Frage zum Eintrag |
Optionen (nur für Redakteure)
 |
Redaktionelle Details anzeigen |
Drucken
Impressum