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Investigation of cross-contaminations near the TCO/p-layer interface of a-Si thin film solar cells using SNMS and SIMS

Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Kubon, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H. :
Investigation of cross-contaminations near the TCO/p-layer interface of a-Si thin film solar cells using SNMS and SIMS.
In: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <10, 1997>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.) S. 913-916. - Chichester: Wiley, 1997 . Wiley , Chichester
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1997)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1997
Autor(en): Gastel, Michael ; Breuer, U. ; Holzbrecher, H. ; Kubon, M. ; Becker, J. S. ; Dietze, H.-J. ; Wagner, H.
Titel: Investigation of cross-contaminations near the TCO/p-layer interface of a-Si thin film solar cells using SNMS and SIMS
Sprache: Englisch
Reihe: International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <10, 1997>: Proceedings. Hrsg.: A. Benninghoven (u.a.) S. 913-916. - Chichester: Wiley, 1997
Ort: Chichester
Verlag: Wiley
Fachbereich(e)/-gebiet(e): FB Materialwissenschaft (aufgegangen in FB11)
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:23
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