Kerber, Andreas ; Cartier, E. ; Pantisano, L. ; Degraeve, R. ; Kauerauf, T. ; Kim, Y. ; Hou, A. ; Groeseneken, G. ; Maes, H. E. ; Schwalke, Udo (2003)
Origin of the Threshold Voltage Instability in SiO2/HfO2 Dual Layer Gate Dielectrics.
In: IEEE Dlectron Device Letters, 24 (2)
Artikel, Bibliographie

Kerber, Andreas ; Cartier, E. ; Pantisano, L. ; Degraeve, R. ; Kim, Y. ; Hou, A. ; Groeseneken, G. ; Maes, H. E. ; Schwalke, Udo (2002)
Charging Instability in n-Channel MOS-FETs with SiO2/HfO2 Gate Dielectric.
IEEE Semiconductor Interface Specialist Conference. San Diego, CA, USA (05.12.2002-07.12.2002)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie