Blättern nach Person
 | Ebene hoch |
Anzahl der Einträge: 1.
Artikel
Dietz, C. ; Zerson, M. ; Riesch, C. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Rehse, N. ; Magerle, R. (2008)
Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy.
In: Applied Physics Letters, 92 (14)
doi: 10.1063/1.2907500
Artikel, Bibliographie
Drucken
Impressum