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Dietz, C. ; Zerson, M. ; Riesch, C. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Rehse, N. ; Magerle, R. :
Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy.
In: Appl. Phys. Lett., vol. 9 (art. 1)
[Artikel] , (2008)

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