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Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy

Dietz, C. ; Zerson, M. ; Riesch, C. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Rehse, N. ; Magerle, R. :
Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy.
In: Appl. Phys. Lett., vol. 9 (art. 1)
[Artikel] , (2008)

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2008
Autor(en): Dietz, C. ; Zerson, M. ; Riesch, C. ; Gigler, A. M. ; Stark, R. W. ; Rehse, N. ; Magerle, R.
Titel: Nanotomography with enhanced resolution using bimodal atomic force microscopy
Sprache: Englisch
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Appl. Phys. Lett.
Band: vol. 9
(Heft-)Nummer: art. 1
Fachbereich(e)/-gebiet(e): ?? fb99_csi~fg5 ??
nicht bekannt
Zentrale Einrichtungen
Hinterlegungsdatum: 08 Jun 2010 07:01
ID-Nummer: doi:10.1063/1.2907500
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