TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Blättern nach Person

Ebene hoch
Exportieren als [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Publikationsjahr | Sprache
Springe zu: 1997 | 1995
Anzahl der Einträge: 2.

1997

Gottwald, P. ; Kräutle, ; Szentpali, B. ; Kincses, Z. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Damage characterization of InP after reactive ion etching using the low-frequency noise measurement technique.
In: Solid state electronics, 41 (4)
Artikel, Bibliographie

1995

Gottwald, P. ; Riemenschneider, R. ; Szentpali, B. ; Hartnagel, H. L. ; Kincses, Z. ; Ruszinko, M. (1995)
Comparison of photo- and plasma-assisted passivating process effects on GaAs devices by means of low-frequency noise measurements.
In: Solid state electronics, 38 (2)
doi: 10.1016/0038-1101(94)00100-T
Artikel, Bibliographie

Diese Liste wurde am Tue Mar 26 04:17:44 2024 CET generiert.