Grajal, J. ; Lin, C. I. ; Gonzalez, P. ; Krozer, V. (1999)
Optimization of doping profiles in Schottky diodes for millimeter frequency multipliers.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Grajal, J. ; Krozer, V. ; Maldonado, F. ; Gonzalez, E. ; Lin, C. I. ; Hartnagel, H. L. (1998)
Tripler circuit design with Schottky varactors.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Brandt, Michael ; Krozer, V. ; Schüßler, M. ; Lin, C. ; Simon, A. ; Vogt, A. ; Rodriguez-Girones Arboli, Manuel ; Parmeggiani, E. ; Grajal, J. (1998)
Application of transmission line pulsed (TLP) stress for thermal and reliability characterisation of compound semiconductor devices.
Reliability Center of Japan (RCJ) Symposium. Tokyo (1998)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L. (1997)
Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Grajal, J. ; Krozer, V. ; Gonzalez, P. ; Gismero, J. ; Maldonado, F. ; Lin, C. I. ; Simon, A. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Characterization of Schottky diode performance by numerical simulation coupled with harmonic balance.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Lin, Chih-I. ; Krozer, V. ; Grajal, J. ; Simon, A. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Schottky varactor diode optimation for frequency multipliers.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Brandt, Michael ; Schüßler, M. ; Krozer, V. ; Grajal, J. ; Hartnagel, H. L. (1997)
Transmission line pulse based reliability investigations of HBTs.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Grajal, J. ; Krozer, V. ; Hartnagel, H. L. ; Gismero, J. (1995)
Simulation of the influence of interface states on HBTs.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie