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Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation

Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L. (1997)
Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation.
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 1997
Autor(en): Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schuessler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1 Januar 1997
Reihe: WOCSDICE'97 <1997, Scheveningen, NL>: Proceedings
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
Letzte Änderung: 11 Dez 2019 07:29
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