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Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation

Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schüßler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L. :
Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation.
In: WOCSDICE'97 <1997, Scheveningen, NL>: Proceedings .
[Konferenz- oder Workshop-Beitrag], (1997)

Typ des Eintrags: Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Keine Angabe)
Erschienen: 1997
Autor(en): Grajal, J. ; Krozer, V. ; Schüßler, M. ; Brandt, M. ; Hartnagel, Hans L.
Titel: Application of semiconductor interface modelling to reliability characterisation
Sprache: Englisch
Reihe: WOCSDICE'97 <1997, Scheveningen, NL>: Proceedings
Fachbereich(e)/-gebiet(e): Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:22
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