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Gradual Reset and Set Characteristics in Yttrium Oxide based Resistive Random Access Memory

Petzold, S. ; Piros, E. ; Sharath, S. U. ; Zintler, Alexander ; Hildebrandt, Erwin ; Molina-Luna, Leopoldo ; Wenger, C. ; Alff, Lambert (2019)
Gradual Reset and Set Characteristics in Yttrium Oxide based Resistive Random Access Memory.
In: Semiconductor Science and Technology
doi: 10.1088/1361-6641/ab220f
Artikel, Bibliographie

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Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 2019
Autor(en): Petzold, S. ; Piros, E. ; Sharath, S. U. ; Zintler, Alexander ; Hildebrandt, Erwin ; Molina-Luna, Leopoldo ; Wenger, C. ; Alff, Lambert
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Gradual Reset and Set Characteristics in Yttrium Oxide based Resistive Random Access Memory
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 16 Mai 2019
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Semiconductor Science and Technology
DOI: 10.1088/1361-6641/ab220f
URL / URN: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6641/ab220f
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Fachbereich(e)/-gebiet(e): 11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft
11 Fachbereich Material- und Geowissenschaften > Materialwissenschaft > Fachgebiet Elektronenmikroskopie
Hinterlegungsdatum: 20 Mai 2019 05:31
Letzte Änderung: 03 Jul 2024 02:38
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