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Petzold, Stefan ; Sharath, S. U. ; Lemke, Jonas ; Hildebrandt, Erwin ; Trautmann, Christina ; Alff, Lambert (2019)
Heavy ion radiation effects on hafnium oxide-based resistive random access memory.
In: IEEE Transactions on Nuclear Science, 66 (7)
doi: 10.1109/TNS.2019.2908637
Artikel, Bibliographie
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