TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Blättern nach Person

Ebene hoch
Exportieren als [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppiere nach: Keine Gruppierung | Typ des Eintrags | Publikationsjahr | Sprache
Anzahl der Einträge: 1.

Schuessler, M. ; Krozer, ; Bock, ; Brandt, ; Vecchi, ; Losi, ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs.
In: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1907-1910
Artikel, Bibliographie

Diese Liste wurde am Tue Mar 19 02:20:54 2024 CET generiert.