TU Darmstadt / ULB / TUbiblio

Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs

Schuessler, M. ; Krozer, ; Bock, ; Brandt, ; Vecchi, ; Losi, ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs.
In: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1907-1910
Artikel, Bibliographie

Typ des Eintrags: Artikel
Erschienen: 1996
Autor(en): Schuessler, M. ; Krozer, ; Bock, ; Brandt, ; Vecchi, ; Losi, ; Hartnagel, Hans L.
Art des Eintrags: Bibliographie
Titel: Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs
Sprache: Englisch
Publikationsjahr: 1 Januar 1996
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1907-1910
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:23
Letzte Änderung: 20 Feb 2020 13:31
PPN:
Export:
Suche nach Titel in: TUfind oder in Google
Frage zum Eintrag Frage zum Eintrag

Optionen (nur für Redakteure)
Redaktionelle Details anzeigen Redaktionelle Details anzeigen