Schuessler, M. ; Krozer, ; Bock, ; Brandt, ; Vecchi, ; Losi, ; Hartnagel, Hans L. (1996)
Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs.
In: Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1907-1910
Artikel, Bibliographie
Typ des Eintrags: | Artikel |
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Erschienen: | 1996 |
Autor(en): | Schuessler, M. ; Krozer, ; Bock, ; Brandt, ; Vecchi, ; Losi, ; Hartnagel, Hans L. |
Art des Eintrags: | Bibliographie |
Titel: | Pulsed stress reliability investigations of Schottky diodes and HBTs |
Sprache: | Englisch |
Publikationsjahr: | 1 Januar 1996 |
Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Microelectronics and reliability. 36 (1996), S. 1907-1910 |
Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik |
Hinterlegungsdatum: | 19 Nov 2008 16:23 |
Letzte Änderung: | 20 Feb 2020 13:31 |
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