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Integrated microwave sensor for cavity-length measurement with sub-millimeter accuracy

Megej, Alexander ; Beilenhoff, Klaus ; Schüßler, Martin ; Ziroff, A. ; Mottet, Bastian ; Yilmazoglu, Oktay ; Mutamba, Kabula ; Hamann, C. D. ; Baican, R. ; Hartnagel, Hans L. :
Integrated microwave sensor for cavity-length measurement with sub-millimeter accuracy.
In: IEEE MTT S International Microwave Symposium digest 2002 ; vol. 2 / ed. Rob Hamilton.- Piscataway, NJ: IEEE Service Center, 2002.- ISBN 0-7803-7239-5.- S. 643-646 . IEEE Service Center , Piscataway, NJ
[ Konferenzveröffentlichung] , (2002)

Typ des Eintrags: Konferenzveröffentlichung
Erschienen: 2002
Autor(en): Megej, Alexander ; Beilenhoff, Klaus ; Schüßler, Martin ; Ziroff, A. ; Mottet, Bastian ; Yilmazoglu, Oktay ; Mutamba, Kabula ; Hamann, C. D. ; Baican, R. ; Hartnagel, Hans L.
Titel: Integrated microwave sensor for cavity-length measurement with sub-millimeter accuracy
Sprache: Englisch
Reihe: IEEE MTT S International Microwave Symposium digest 2002 ; vol. 2 / ed. Rob Hamilton.- Piscataway, NJ: IEEE Service Center, 2002.- ISBN 0-7803-7239-5.- S. 643-646
Ort: Piscataway, NJ
Verlag: IEEE Service Center
Fachbereich(e)/-gebiet(e): 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik
18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Mikrowellenelektronik
Hinterlegungsdatum: 19 Nov 2008 16:30
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