Zaunert, Florian ; Endres, Ralf ; Stefanov, Yordan ; Schwalke, Udo (2006)
Evaluation of MOSFETs with Crystalline High-k Gate-dielectrics: Device Simulation and Experimental Data.
7th Symposium Diagnostics & Yield - Advanced Silicon Devices and Technologies for ULSI Era. Warschau, Polen (25.06.2006-28.06.2006)
Konferenzveröffentlichung, Bibliographie
| Typ des Eintrags: | Konferenzveröffentlichung |
|---|---|
| Erschienen: | 2006 |
| Autor(en): | Zaunert, Florian ; Endres, Ralf ; Stefanov, Yordan ; Schwalke, Udo |
| Art des Eintrags: | Bibliographie |
| Titel: | Evaluation of MOSFETs with Crystalline High-k Gate-dielectrics: Device Simulation and Experimental Data |
| Sprache: | Englisch |
| Publikationsjahr: | 28 Juni 2006 |
| Veranstaltungstitel: | 7th Symposium Diagnostics & Yield - Advanced Silicon Devices and Technologies for ULSI Era |
| Veranstaltungsort: | Warschau, Polen |
| Veranstaltungsdatum: | 25.06.2006-28.06.2006 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik 18 Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:27 |
| Letzte Änderung: | 26 Aug 2018 21:24 |
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