Rispal, Lorraine ; Stefanov, Yordan ; Wessely, Frank ; Schwalke, Udo
:
Carbon Nanotube Transistor Fabrication Assisted by Topographical and Conductive Atomic Force Microscopy.
[Online-Edition: http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.45.3672]
In:
Japanese Journal of Applied Physics, 45
pp. 3672-3679.
[Artikel], (2006)
Offizielle URL: http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.45.3672
| Typ des Eintrags: | Artikel |
|---|---|
| Erschienen: | 2006 |
| Autor(en): | Rispal, Lorraine ; Stefanov, Yordan ; Wessely, Frank ; Schwalke, Udo |
| Titel: | Carbon Nanotube Transistor Fabrication Assisted by Topographical and Conductive Atomic Force Microscopy |
| Sprache: | Englisch |
| Titel der Zeitschrift, Zeitung oder Schriftenreihe: | Japanese Journal of Applied Physics |
| Band: | 45 |
| Fachbereich(e)/-gebiet(e): | Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik Fachbereich Elektrotechnik und Informationstechnik > Institut für Halbleitertechnik und Nanoelektronik |
| Hinterlegungsdatum: | 20 Nov 2008 08:26 |
| Offizielle URL: | http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.45.3672 |
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